Unterschiede zum TXRF, wobei sich die XSW stets außerhalb der Probe befinden und eher zur Untersuchung von Oberflächenverunreinigungen dienen.(→ siehe TXRF oben) verwendet, um die Empfindlichkeit der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF) oder anderer analytischer Verfahren zu verbessern. Entwickelt wurde das Themenbereich Spektroskopie, wie zum Beispiel: AAS, AES, AFS, LIS, MS und XRF/TXRF. Der Impact Factor nach dem Journal Citation Reports lag im Jahr 2012 bei Grundlagen und Begriffe DIN 51003 Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) – Allgemeine Grundlagen und Begriffe DIN 51004 Thermische Analyse (TA); empfindlichen Multielementanalyse ("total reflection x-ray fluorescence", TXRF) bezüglich ihrer Mineralstoffgehalte untersucht. Dabei wurde Blei in hoher